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GB/T 43452-2023模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项要求
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 43453-2023模拟/混合信号知识产权(IP)核文档结构指南
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 43454-2023集成电路知识产权(IP)核设计要求
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 43455-2023模拟/混合信号知识产权(IP)核质量评测
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 44777-2024知识产权(IP)核保护指南
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 44795-2024系统级封装(SiP)一体化基板通用要求
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 44798-2024复杂集成电路设计保证指南
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 44801-2024系统级封装(SiP)术语
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 44924-2024半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 23025-2024信息化和工业化融合管理体系 生产设备运行管控信息模型分类与应用指南
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 43041-2023混合集成电路 直流/直流(DC/DC)变换器
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 35001-2018微波电路 噪声源测试方法
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 35002-2018微波电路 频率源测试方法
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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GB/T 35011-2018微波电路 压控振荡器测试方法
发布时间:2025-07-19 13:09:47
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