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GB/T 33922-2017MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 33929-2017MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 34893-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 34894-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 34898-2017微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
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GB/T 34899-2017微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
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GB/T 34900-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 35005-2018集成电路倒装焊试验方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 35010.3-2018半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 36479-2018集成电路 焊柱阵列试验方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 38341-2019微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
发布时间:2025-07-19 13:02:25
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GB/T 38446-2020微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
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GB/T 38447-2020微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
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GB/T 42972-2023微波电路 检波器测试方法
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GB/T 43027-2023高压电源变换器模块测试方法
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